Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (476,2 488,0 514,5 568,2 623,8 og 647,1nm)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
10
nW
2
mW
80
pW
1,6
μW
Trap detektor
Q2KAL402
Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (476,2 488,0 514,5 og 550 - 860nm)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
0,1
μW
1
mW
0,4
nW
4
μW
Kryogent radiometer
Q2KAL402
Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (800 - 1650nm)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
50
μW
1
mW
0,35
μW
7
μW
Termopilradiometer
Q2KAL402
Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (800 - 1650nm)(single- og multimode)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
50
μW
1
mW
0,35
μW
7
μW
Integrerende kugler
Q2KAL402
Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (800 - 1650nm)(single- og multimode)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
1
mW
200
mW
13
μW
2,6
mW
Integrerende kugle
Q2KAL402
Kalibrering af optiske effektmålere, herunder bestemmelse af responsivitet (1530 - 1580nm)(single- og multimode)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
50
μW
1
mW
0,5
μW
10
μW
Integrerende kugler
Q2KAL402
Spektral kalibrering (800 - 1650nm)(single- og multimode)
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
1
nW
2
mW
5
pW
10
μW
Trap detektor
Q2KAL402
Liniaritet
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
1
nW
10
mW
9
pW
90
μW
Kølet Ge detektor
Q2KAL402
Liniaritet
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
1
mW
200
mW
10
μW
2
mW
Integrende kugle
Q2KAL402
Liniaritet
Optisk
Optisk udstyr
Effekt, optisk
1
nW
1
mW
9
pW
9
μW
Kølet Ge detektor
Q2KAL402
Fiber optiske attenuatorer (liniaritet)
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (infrarød)
1516
nm
1560
nm
8
pm
8
pm
Molekylære referencelinier
Q2KAL404
Kalibrering af optiske spekrtumanalysatorer
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (infrarød)
1295
nm
1325
nm
50
pm
50
pm
Molekylære referencelinier
Q2KAL404
Kalibrering af optiske spekrtumanalysatorer
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (infrarød)
1325
nm
1330
nm
0,1
nm
0,1
nm
Molekylære referencelinier
Q2KAL404
Kalibrering af optiske spekrtumanalysatorer
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (infrarød)
1314,588
nm
1314,588
nm
8
pm
8
pm
Molekylære referencelinier
Q2KAL404
Kalibrering af optiske spekrtumanalysatorer
Optisk
Lasere
Bølgelængde (infrarød)
1516
nm
1560
nm
8
pm
8
pm
Optisk spektrumanalysator
Q2KAL404
Kalibrering af lasere og LED'ere
Optisk
Lasere
Bølgelængde (infrarød)
1295
nm
1325
nm
50
pm
50
pm
Optisk spektrumanalysator
Q2KAL404
Kalibrering af lasere og LED'ere
Optisk
Lasere
Bølgelængde (infrarød)
1325
nm
1330
nm
0,1
nm
0,1
nm
Optisk spektrumanalysator
Q2KAL404
Kalibrering af lasere og LED'ere
Optisk
Lasere
Bølgelængde (infrarød)
1314,588
nm
1314,588
nm
8
pm
8
pm
Optisk spektrumanalysator
Q2KAL404
Kalibrering af lasere og LED'ere
Optisk
Spektroradiometer
Spektral irradians
0,00001
(W/m2)/nm
0,01
(W/m2)/nm
3,7
%
3,7
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 290 nm til 315 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral irradians
0,0001
(W/m2)/nm
0,1
(W/m2)/nm
3,1
%
3,1
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 315 nm til 380 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral irradians
0,00025
(W/m2)/nm
0,25
(W/m2)/nm
2,7
%
2,7
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 380 nm til 440 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral irradians
0,001
(W/m2)/nm
1
(W/m2)/nm
2,6
%
2,6
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 440 nm til 800 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral radians
0,005
(W/m2/sr)/nm
0,5
(W/m2/sr)/nm
4,7
%
4,7
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 290 nm til 315 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral radians
0,01
(W/m2/sr)/nm
1
(W/m2/sr)/nm
4,2
%
4,2
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 315 nm til 380 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral radians
0,025
(W/m2/sr)/nm
2,5
(W/m2/sr)/nm
3,9
%
3,9
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 380 nm til 440 nm
Optisk
Spektroradiometer
Spektral radians
0,25
(W/m2/sr)/nm
25
(W/m2/sr)/nm
3,8
%
3,8
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Gældende for spektralområdet 440 nm til 800 nm
Optisk
Spektroradiometer
Belysningsstyrke
100
lx
50000
lx
2,7
%
2,7
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Optisk
Spektroradiometer
Luminans
100
cd/m2
5000
cd/m2
3,9
%
3,9
%
Tungsten lampe
Q2KAL452
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (infrarød)
1542,38371
nm
1542,38371
nm
0,07
pm
0,07
pm
Stabiliseret laser
Q2KAL404
Kalibrering af bølgemetre
Optisk
Optisk udstyr
Bølgelængde (optisk)
632,99121
nm
632,99121
nm
0,07
pm
0,07
pm
Stabiliseret laser
Q2KAL404
Kalibrering af bølgemetre
Optisk
Fiberoptik
Længde (1310 nm laser)
2237,75
m
21306,65
m
0,43
m
0,62
m
reference fiber
Q2KAL411
Kalibrering af OTDR udstyr i overensstemmelse med standarden EN 61746-1 (2011)
Optisk
Fiberoptik
Længde (1550 nm laser)
2238,66
m
21315,45
m
0,43
m
0,62
m
reference fiber
Q2KAL411
Kalibration of OTDR udstyr i overensstemmelse med standarden EN 61746-1 (2011)
Geometri
Ruhedsmålere
Længde
1,5
μm
10
μm
0,12
μm
0,8
μm
PTB / ISO type D normaler
Q2KAL951
Rz,Rt
Geometri
Ruhedsmålere
Længde
0,2
μm
2
μm
0,008
μm
0,08
μm
PTB / ISO type D normaler
Q2KAL951
Ra, Rq
Geometri
Ruhedsmålere
Længde
0,25
μm
10
μm
0,013
μm
0,1
μm
Halle normal
Q2KAL951
Kun i bestemte trin
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
1,5
μm
100
μm
0,038
μm
2,5
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Q2KAL952
type C: Rz, Rt
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
1,5
μm
10
μm
0,06
μm
0,25
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Q2KAL952
type D: Rz, Rt
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
0,2
μm
2
μm
0,005
μm
0,05
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Q2KAL952
type D: Ra, Rq
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
0,25
μm
10
μm
0,013
μm
0,12
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Q2KAL952
type A: d
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
0,2
μm
10
μm
0,005
μm
0,25
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Q2KAL952
type C: Ra, Rq
Geometri
Ruhedsnormaler
Længde
10
μm
250
μm
0,75
μm
9,9
μm
Kalibreret tastsnitinstrument
Intern procedure RU-535
type C: Rsm
Geometri
Måleklodser
Længde
0,5
mm
100
mm
15
nm
15
nm
Laserinteferometer
Q2KAL302
Q2KAL308
Bestemmelse af længdeforskelle op til 1 mm af måleklodser klasse 00 og K
Geometri
Måleklodser
Længde
0,5
mm
100
mm
23
nm
43
nm
Laserinteferometer
Q2KAL302
Q2KAL308
Inteferometrisk kalibrering af måleklodser klasse 00 og K
Geometri
Måleklodser
Længde
0,5
mm
100
mm
45
nm
90
nm
Måleklods
Q2KAL330
Mekanisk sammenligning ved hjælp af måleklodskomparator. CMC gælder for måleklods i stål eller wolframkarbid
Geometri
Afstandstransducere
Lineær forskydning
0
mm
0,005
mm
0,000001
mm
0,000002
mm
Laser interferometer
Q2KAL321
gælder også forskydningssensorer og -aktuatorer
Geometri
Afstandstransducere
Lineær forskydning
0,005
mm
1000
mm
0,000002
mm
0,002
mm
Laser interferometer
Q2KAL321
gælder også forskydningssensorer og -aktuatorer
Geometri
Geometriske normaler
Længde
500
nm
12000
nm
0,88
nm
18
nm
Atomic force mikroskop
Q2KAL 903
Kalibrering af gentagelsesafstand af todimensionalt gitter
Geometri
Geometriske normaler
Længde
1000
nm
50000
nm
0,15
%
0,15
%
Konfokal mikroskop
Q2KAL922
Kalibrering af gentagelsesafstand af todimensionalt gitter
Geometri
Geometriske normaler
Længde
20
nm
3000
nm
1
nm
8
nm
Atomic force mikroskop
Q2KAL 904
Kalibrering af rektangulære forhøjninger og fordybninger med bredde op til 30 μm, i analogi med ISO 5436
Geometri
Geometriske normaler
Længde
30
nm
300
nm
3
%
3
%
Konfokal og interferens mikroskop
Q2KAL924
Kalibrering af forhøjninger og fordybninger, i analogi med ISO 5436
Geometri
Geometriske normaler
Længde
300
nm
5000
nm
2
%
2
%
Konfokal og interferens mikroskop
Q2KAL924
Kalibrering af forhøjninger og fordybninger, i analogi med ISO 5436
Geometri
Geometriske normaler
Længde
5000
nm
50000
nm
1
%
1
%
Konfokal og interferens mikroskop
Q2KAL924
Kalibrering af forhøjninger og fordybninger, i analogi med ISO 5436
Geometri
Geometriske normaler
Længde
50000
nm
175000
nm
0,2
%
0,2
%
Konfokal og interferens mikroskop
Q2KAL924
Kalibrering af forhøjninger og fordybninger, i analogi med ISO 5436
Geometri
Geometriske normaler
Længde
100
nm
5
μm
5
nm
50
nm
Atomic force mikroskop
Q2KAL905
Kalibrering af referencepartikler til f.eks. partikeltællere
Geometri
Partikeltællere
Partikelantalkoncentration (100 nm - 1999 nm)
0
cm-3
5
cm-3
0,0034
cm-3
0,25
cm-3
Optisk partikeltæller
Q2KAL907
Geometri
Partikeltællere
Partikelantalkoncentration (2000 nm - 6000 nm)
0
cm-3
5
cm-3
0,0034
cm-3
0,4
cm-3
Optisk partikeltæller
Q2KAL907
Geometri
Partikeltællere
Størrelsesindstillingsfejl (200 nm - 6000 nm)
-30
%
30
%
2,5
%
2,5
%
Optisk partikeltæller
Q2KAL907
"Size setting error" på engelsk
Geometri
Partikeltællere
Størrelsesopløsning (200 nm - 6000 nm)
0
%
30
%
4
%
4
%
Optisk partikeltæller
Q2KAL907
"Size Resolution" på engelsk
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-36
dB
-18
dB
0,07
dB
0,07
dB
IEC 61094-3, 1995, Primær metode
>1kHz: IEC 61094-3. <1kHz: IEC 61094-3, IEC 61094-2, inkl. forskellene mellem frit-felt og trykfølsomhed. Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4160 svarende til type LS1P mikrofoner (IEC 61094-1), 250 Hz <= frek. <= 15 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-36
dB
-18
dB
0,08
dB
0,08
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4160 svarende til type LS1P mikrofoner (IEC 61094-1), 15,1 kHz <= frekvens <= 18 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-36
dB
-18
dB
0,09
dB
0,09
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4160 svarende til type LS1P mikrofoner (IEC 61094-1), 18,1 kHz <= frekvens <= 21 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-28
dB
0,07
dB
0,07
dB
IEC 61094-3, 1995, Primær metode
>3kHz: IEC 61094-3. <3kHz: IEC 61094-3, IEC 61094-2, inkl. forskellene mellem frit-felt og trykfølsomhed. Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4180 svarende til type LS2aP mikrofoner (IEC 61094-1), 250 Hz <= frekvens <= 9,98 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-28
dB
0,08
dB
0,08
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4180 svarende til type LS2aP mikrofoner (IEC 61094-1), 10 kHz <= frekvens <= 17,9 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-28
dB
0,09
dB
0,09
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4180 svarende til type LS2aP mikrofoner (IEC 61094-1), 18 kHz <= frekvens <= 23,9 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-28
dB
0,1
dB
0,1
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4180 svarende til type LS2aP mikrofoner (IEC 61094-1), 24 kHz <= frekvens <= 29,9 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-28
dB
0,12
dB
0,12
dB
IEC 61094-3, 1995
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, Brüel & Kjær Type 4180 svarende til type LS2aP mikrofoner (IEC 61094-1), 30 kHz <= frekvens <= 32 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-10
dB
0,13
dB
0,13
dB
Brüel & Kjær Type 4160
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS1 og LS1 mikrofoner (IEC 61094-4), 250 Hz <= frekvens <= 500 Hz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-10
dB
0,12
dB
0,12
dB
Brüel & Kjær Type 4160
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS1 og LS1 mikrofoner (IEC 61094-4), 500 Hz < frekvens <= 15 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-40
dB
-10
dB
0,14
dB
0,14
dB
Brüel & Kjær Type 4160
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS1 og LS1 mikrofoner (IEC 61094-4), 15,01 kHz <= frekvens <= 25 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,2
dB
0,2
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 250 Hz <= frekvens < 500 Hz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,15
dB
0,15
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 500 Hz <= frekvens < 1 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,11
dB
0,11
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 1 kHz <= frekvens <= 15 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,12
dB
0,12
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 15,01 kHz <= frekvens <= 20 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,13
dB
0,13
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 20,01 kHz <= frekvens <= 25 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-60
dB
-20
dB
0,15
dB
0,15
dB
Brüel & Kjær Type 4180
Sekventiel sammenligning, Q2KAL702
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, WS2, WS3 og LS2 mikrofoner (IEC 61094-4), 25,01 kHz <= frekvens <= 30 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-70
dB
-20
dB
0,25
dB
0,14
dB
IEC 61094-3
IEC 61094-4 Type WS3, dB relativt til 1V/Pa, 20 kHz <= frekvens <= 150 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Fritfeltfølsomhed, modulus
-70
dB
-20
dB
0,3
dB
0,18
dB
IEC 61094-4 type WS3
IEC 61094-8
IEC 61094-4 Type WS3, dB relativt til 1V/Pa, 20 kHz <= frekvens <= 150 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Trykfølsomhed
-40
dB
-20
dB
0,03
dB
0,11
dB
Tryk reciprocitet IEC 61094-2, 2009 samt Q2KAL703
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, LS1 mikrofon, 2 Hz <= frekvens <= 12,5 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Trykfølsomhed
-50
dB
-26
dB
0,03
dB
0,17
dB
Tryk reciprocitet IEC 61094-2, 2009 samt Q2KAL703
Enhed i dB relativt til 1 V/Pa, LS2 mikrofon, 2 Hz <= frekvens <= 31,5 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Trykfølsomhed, fase
-180
°
180
°
0,06
°
0,56
°
Tryk reciprocitet IEC 61094-2, 2009 samt Q2KAL703
LS1 mikrofon, 2 Hz <= frekvens <= 12,5 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Trykfølsomhed, fase
-180
°
180
°
0,06
°
1,42
°
Tryk reciprocitet IEC 61094-2, 2009 samt Q2KAL703
LS2 mikrofon, 2 Hz <= frekvens <= 31,5 kHz
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Mikrofoner
Trykfølsomhed
-40
dB
-10
dB
0,05
dB
0,24
dB
LS1P mic., B&K type 4160, LS2aP microphone B&K type 4180
Omfatter multifrekvens kalibratorer fra 20 Hz til 16 kHz. dB re 20 µPa
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Akustik og ultralyd
Øresimulator
Akustisk overføringsimpedans
100
dB
200
dB
0,2
dB
0,3
dB
WS2 mic. B&K type 4192, WS3 mic. B&K type 4939
IEC 60318-1
Omfatter typer IEC 60318-1 og IEC 60318-4, fra 20 Hz til 16 kHz, dB re 1 Pa s-1 m3
Ørsteds Plads, Bygn. 352, 2800 Kgs. Lyngby
Kemisk
Ledningsevnemåleudstyr
Konduktivitet
5
μS/m
1500
μS/m
0,5
%
0,5
%
Referencecelle
Q2KAL820
Bestemmelse af cellekonstant i vandig opløsning. Kalibrering af ledningsevnemåleudstyr. Nominelle værdier: 5 µS/m, 60 µS/m, 130 µS/m, 500 µS/m og 1500 µS/m. Referencetemperatur T = 25 °C.
Kemisk
Ledningsevnemåleudstyr
Konduktivitet
1,5
mS/m
140
mS/m
0,3
%
0,3
%
Referencecelle
Q2KAL820
Bestemmelse af cellekonstant i vandig opløsning. Kalibrering af ledningsevnemåleudstyr. Referencetemperatur T = 25 °C.
Kemisk
Ledningsevnemåleudstyr
Konduktivitet
10
mS/m
30
S/m
0,3
%
0,3
%
Ledningsevneopløsning
Q2KAL823
Bestemmelse af cellekonstant i vandig opløsning. Kalibrering af ledningsevnemåleudstyr. Referencetemperatur T = 25 °C.
Kemisk
Referencematerialer
Konduktivitet
90
μS/m
25
mS/m
0,05
%
0,29
%
Referenceceller
Q2KAL808
Bestemmelse af ledningsevne af væsker. Ikke-vandige opløsninger.
Kemisk
Referencematerialer
Konduktivitet
1
mS/m
25
mS/m
0,06
%
0,67
%
Referenceceller
Q2KAL808
Bestemmelse af ledningsevne af væsker. Vandige opløsninger
Kemisk
Referencematerialer
Konduktivitet
25
mS/m
30
S/m
0,045
%
0,052
%
Referenceceller
Q2KAL808
Bestemmelse af ledningsevne af væsker. Vandige opløsninger
Kemisk
Referencematerialer
Molalitet
0,099
mol/kg
0,11
mol/kg
3,2
μmol/kg
3,2
μmol/kg
Primær coulometrisk metode
Q2KAL854
Stofmængde af protoner (H+) i fortyndet HCl ved coulometrisk titrering
Kemisk
Referencematerialer
pH
3,8
pH
9,5
pH
0,0016
pH
0,0016
pH
IUPAC Recommendations 2002. Q2KAL856.
Bestemmelse af pH i vandige opløsninger
Kemisk
Referencematerialer
pH
9,5
pH
10,5
pH
0,0016
pH
0,003
pH
IUPAC Recommendations 2002. Q2KAL856.
Bestemmelse af pH i vandige opløsninger
Kemisk
Referencematerialer
pH
4
pH
10
pH
0,0085
pH
0,0085
pH
Q2KAL871
Bestemmelse af pH i fortyndede sekundære pH-buffere
Kemisk
pH måleudstyr
pH (5 °C - 80 °C)
1,67
pH
12,45
pH
0,033
pH
0,033
pH
pH bufferopløsninger
Q2KAL881
Bestemmelse af hældning og skæringspunkt for pH elektroder og pH metre
Kemisk
Elektrisk måleudstyr (DC)
Spænding (DC)
-1
V
1
V
0,1
mV
0,5
mV
Elektrokemisk referenceelektrode
Q2KAL891
Bestemmelse af faktisk elektrokemisk referenceelektrodepotential ved 25°C og 37°C